TH2638 是用于陶瓷电容生产测试的一款电容表。TH2638 可用于在频率 100Hz,120Hz, 1kHz,10kHz,40kHz, 100kHz,1MHz 和测试信号电平(0.1V ∼1V)对陶瓷电容作出评估。
TH2638 可提供在所有频率下基本精度为±0.07%(C)、±0.0005(D)的 C-D 测量, 且在每个范围内都具有七位数的分辨率(损耗因数分辨率为 1 ppm)。
利用其内置的比较器,TH2638 可输出比较/判定结果,用于将元件分类为zui多 10 个分 档(BIN)。此外,通过使用处理器接口和扫描仪接口选件,TH2638 很容易与元器件处理器、 扫描仪和系统控制器结合使用,以使元器件测试、分类和质量控制数据处理实现全自动化。
GPIB/LAN/USB 接口是 TH2638 上的标准接口(TH2638A/B/C 不包含 GPIB 和 Scanner 接口),并支持自动测试。
■电解电容器高速高精度测试
■陶瓷电容器高速高精度测试
■薄膜电容器高速高精度测试
■各种电容器生产线高速测试
■高速自动化生产线集成测试
■半导体、器件、材料分布电容测试
TH2638系列高速精密电容测试仪包括以下几种类型:
简要参数
TH2638
TH2638A
TH2638B
TH2638C
测试频率
100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,100kHz,1MHz,1MHz±1%,1MHz±2%
100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,40kHz,100kHz
100Hz,120Hz,1kHz,10kHz
100Hz,120Hz,1kHz
基本精度
C:0.07%,D:0.0005
测试电平
0.1Vrms-1Vrms
输出阻抗
1.5Ω、0.5Ω、0.3Ω、10Ω
功能特点
高速度,高精度,高一致性
测试速度:2.3ms(100kHz/1MHz),3.0ms(1kHz/10kHz/40kHz),11.0ms(120/100Hz)
电容测试精度:±0。07%,损耗因素:±0。0005
18个量程配置,3倍于传统LCR的量程的紧密配置,保证了高速测试下仍能保证高精度和高一致性
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频率量程
100Hz、120Hz
1kHz
10kHz
40kHz
100kHz
1MHz
1pF
2.2pF
4.7pF
10pF
22pF
47pF
100pF
220pF
470pF
1nF
2.2nF
4.7nF
10nF
22nF
47nF
100nF
220nF
470nF
1μF
2.2μF
4.7μF
10μF
22μF
47μF
100μF
220μF
470μF
1mF
测试速度和量程的设置,解决了以下几个问题
1. 高速测试下精度及无法得到保证
2. 测量仪器无法满足高吞吐率自动化设备的测试要求
3. 在满足了测试速度的情况下,多次测试数据的一致性不好
从低电容值到高电容值,超宽的测量范围
测量范围
0.001fF-1.5nF
>6.8pF
>15pF
>68pF
100Hz/120Hz
>6.8nF
新能源汽车用DC-Link薄膜电容器的精·确测试
DC-Link薄膜电容的特点:
a. 容量高,可高达1000μF甚至更高
b. 频率特性稳定,产品高频特性好,工作频率约为10kHz
c. 低ESR(串联等效电阻),zui小可达0.2-0.5mΩ,甚至更小,通过耐纹波电流能力强
d. 低ESL(串联等效电感),zui低可达<10nH,减小了在开关频率下的震荡效应,因此可忽略掉吸收电容.
e. 产品安·全性好,耐过压能力强,抗浪涌电压能力大于1.5倍的额定电压
f. 没有极性,能承受反向电压
g. 额定电压可达800V以上,不需要串联和平衡电阻
如何正确快速测试DC-Link是一个世界性的难题,TH2638A是同惠在电容测试行业20多年的技术积累的基础上,创造性的发明了一个频率下同时测量Cs、ESR和ESL的技术,此技术使得DC-Link电容可以在设定的频率下稳定测试高达1mF的容量、1μΩ稳定值的ESR、0.01nH稳定值的ESL,完·美的解决了这个问题,为广大DC-Link电容器厂家提供了一个高效,高性价比的完·美解决方案.
低阻抗测试,信号电平补偿功能
SLC OFF(≥220μF量程)
1.5Ω
SLC ON(≥220μF量程)
0.3Ω
10nF-100μF量程
10Ω
SLC OFF(≥22μF量程)
220nF-10μF量程
100pF-100nF量程
≥2.2μF量程
100pF-1μF量程
所有量程
接触检查功能及同步信号源功能
接触检查,无需额外时间,只有在测试时才输出信号.保证测试数据正确有效及避免长时间接触造成接触不·良
频率偏移设置
1MHz测试频率可偏置为:1MHz-2%、-1%、+1%和+2%。
扫描仪接口和料箱分类
兼容SCPI指令集,丰富的接口
配附件
电解电容器高速高精度测试
DC-Link电容器高速高精度测试
陶瓷电容器高速高精度测试
薄膜电容器高速高精度测试
各种电容器生产线高速测试
高速自动化生产线集成测试
半导体、器件、材料分布电容测试
其他各种电容器......
技术参数
型号 TH2638 TH2638A TH2638B TH2638C 测试信号参数 Cp-D、Cp-Q、Cp-Rp、Cp-G、Cs-D、Cs-Q、Cs-Rs Cp-D、Cp-Q、Cp-Rp、Cp-G、Cs-D、Cs-Q、Cs-Rs、Cs-Rs-Ls Cp-D、Cp-Q、Cp-Rp、Cp-G、Cs-D、Cs-Q、Cs-Rs 测试信号 频率 允许频率 100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz、1MHz、1MHz±1%、1MHz±2% 100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、40kHz、100kHz 100Hz、120Hz、1kHz、10kHz 100Hz、120Hz、1kHz 精度 ±0.02% 电平 范围 0.1V-1V 分辨率 0.01V 精度 ±5% 输出方式 连续或同步 信号源延时 范围 0-1s 分辨率 0.1ms 输出阻抗 100Hz 120Hz SLC OFF 量程≥220μF 1.5Ω SLC ON 量程≥220μF 0.3Ω 1kHz SLC OFF 量程≥22μF 量程≥22μF 1.5Ω 0.3Ω SLC ON 量程220nF-10μF 量程100pF-100nF 0.3Ω 10Ω 10kHz 量程≥2.2μF 1.5Ω -- 量程100pF-1μF 10Ω -- 40kHz -- 10Ω -- -- 100kHz 10Ω -- -- 1MHz 10Ω -- -- -- 测试速度 五档测试速度选择:1、2、4、6、8 zui快测量速度 100Hz/ 120Hz 11ms 1kHz 10kHz 3.3ms 40kHz -- 3ms -- -- 100kHz 2.5ms -- -- 1MHz 2.3ms -- -- -- 测试量程方式 自动、保持 平均次数 1-256 触发方式 内部、手动、外部、总线 内部、手动、外部(除SCANER)、总线(除GPIB) 触发延时时间 范围 0-1s 分辨率 0.1ms 测量显示范围 参数 Cs、Cp ±1.000000aF-999.9999EF D ±0.000001-9.999999 Q ±0.01-99999.99 Rs、Rp ±1.000000aΩ-999.9999EΩ G ±1.000000aS-999.9999ES Δ% ±0.0001%-999.9999% 基本测量准确度 C:0.07%, D:0.0005 显示方式 浮动/固定小数点显示、ΔABS、Δ% 列表扫描 10点列表扫描,可对频率、电压进行扫描 比较器功能 11档:BIN1-BIN9、OUT_OF_BIN、AUX_BIN 接口 RS232C、LAN、USB HOST、USB DEVICE、HANDLER、GPIB、SCANNER RS232C、LAN、USB HOST、USB DEVICE、HANDLER 内部存储 40个仪器设定文件 外部USB存储 ·GIF图像 ·40个仪器设定文件 ·测试数据USB存储器直接存储 ·截屏文件直接保存USB存储器 温度、湿度、海拔 (操作环境) 0℃ - 45℃,15% - 85% RH (≤40℃,无冷凝),0 - 2000m 供电电源 电压 90VAC-264VAC 频率 47Hz-63Hz 功耗 zui大150VA 温度、湿度、海拔(存储环境) -20℃ - 70℃,0 - 90% RH (≤65℃,无冷凝),0 - 4572m
100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz、1MHz、1MHz±1%、1MHz±2%
100Hz
120Hz
SLC OFF 量程≥22μF
量程≥22μF
SLC ON 量程220nF-10μF
量程100pF-100nF
100Hz/
温度、湿度、海拔
(操作环境)
附件
标配 配件名称 型号 四端带卡夹具 TH26005C 短路片 TH26010 测试夹具 TH26078 带盒四端绝缘带锁Kelvin测试线 TH26011BS 选配 配件名称 型号 磁环夹具(片式) TH26007A 磁环夹具 TH26008A 带盒贴片测试线 TH26009B 夹具 TH26047 测试夹具 TH26062 测试夹具 TH26063 高频贴片夹具 TH26108C 电介质测试夹具 TH26077
产品资料手册