产品功能介绍
S530 功能
灵活的探测器接口选项，包括测试头，支持原有吉时利和 Keysight 装置；行业标准的 KTE 软件环境；触摸一次探头即可完成高压和低压参数的测试；通过全新系统参考单元(SRU)进行全自动系统级校准符合zui新质量标准；KTE7中的运行状况检查软件工具zui大限度地延长系统正常运行时间和提高数据完整性；内置的瞬态过电压和/或过电流事件保护，可zui大程度地减少代价高昂的系统停机或对晶片造成损坏；符合 ISO-17025 校准要求并支持 IATF-16949 合规性；提供 SECS/GEM 与 300 毫米晶圆厂的集成。
S540 功能
在单次探头触摸中自动在多达 48 个引脚上执行所有晶片级参数测试，包括高电压击穿、电容和低电压测量，而无需更改电缆或探头卡基础设施；在zui高达 3kV 的条件下执行晶体管电容测量，如 Ciss、Coss 和 Crss，而无需手动配置测试引脚；在高速、多引脚、全自动测试环境中实现低电平测量性能；基于 Linux 的 Keithley 测试环境(KTE)系统软件支持轻松进行测试开发和快速执行；非常适合于过程集成、过程控制监控和生产芯片分类中的全自动或半自动应用；通过zui大程度减少测试时间、测试设置时间和占地面积，降低拥有成本，同时实现实验室级测量性能。
S500 功能
全量程源测量单元 (SMU)仪器技术规格，包括 subfemtoamp 测量，确保在几乎任何设备上都能执,行广泛的测量；适用于内存检定、电荷泵、单脉冲 PIV(电荷陷阱分析)和 PIV 扫描(自加热回避)的脉冲生成和超快 I-V；利用支持 Keithley 系统的可扩展 SMU 仪器，提供低或高通道数系统，包括并行测试；适用于测试功率 MOSFET 和显示驱动器等测试器件的高电压、电流和功率源测量仪器；开关、探头卡和布线保证系统完全适用于您的 DUT。
产品资料手册
标配附件
可选附件