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> 日置元件参数测试仪
电池测试仪
型号:BT3563A(BT3563)
品牌:日置/HIOKI
频率:1kHz±0.2Hz 阻抗精度:±0.5%rdg±10dgt 电压精度:±0.01%rdg±3dgt
LCR测试仪
型号:IM3523
品牌:日置/HIOKI
频率:40Hz~200kHz 量程:100mΩ~100MΩ 测量模式:LCR,连续测试
化学阻抗分析仪
型号:IM3590
品牌:日置/HIOKI
频率:1mHz~200kHz 测量量程:100mΩ~100MΩ 普通电阻:100Ω,低电阻:25Ω
LCR测试仪
型号:IM3533
品牌:日置/HIOKI
频率:1mHz~200kHz 量程:100mΩ~100MΩ 测量模式:LCR、变压器、连续
LCR测试仪
型号:IM3536
品牌:日置/HIOKI
量程:100mΩ~100MΩ 测量模式:LCR,连续测量 精度保证范围:1mΩ~200MΩ
LCR测试仪
型号:3511-50
品牌:日置/HIOKI
频率:120Hz或1kHz 测量源:恒压50/500mV,1Vrms(AC) 测量参数:│Z│,θ,C,L,D,Q,R
C测试仪
型号:3504-40/-50/-60
品牌:日置/HIOKI
频率:120Hz,1kHz 测量参数:Cs,Cp,D C:0.9400pF~20.0000mF
C测试仪
型号:3506-10
品牌:日置/HIOKI
测量参数:C,D,Q 测量频率:1kHz,1MHz 测量信号电平:500mV,1Vrms
阻抗分析仪
型号:IM3570
品牌:日置/HIOKI
频率:4Hz~5MHz 测量量程:100mΩ~100MΩ 测量模式:LCR,分析仪,连续测量
阻抗分析仪
型号:IM7581/83/85/87/80A
品牌:日置/HIOKI
测量方式RF I-V法 测量频率1MHz~3GHz 测量时间zui快0.5ms
LCR 应用软件
型号:CN030
品牌:日置/HIOKI
通讯接口:USB、LAN、RS-232C PC环境:频率2GHz以上、内存8GB 功能:实时记录、频率扫描、保存
电阻计
型号:RM3542
品牌:日置/HIOKI
采样率:快速,中速,慢速 电阻量程:100mΩ~100MΩ 开路端口电压:zui大20VDC
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