优势

测量范围非常广，专门用于超低电阻测量，以检定高导电性材料、纳米材料和超导材料；限制元器件(如纳米器件和纳米材料)中的功耗，如果以非常低的功率电平进行测试，这些元器件很容易损坏；通过消除热偏移影响以及將读数噪声降低到 30n∨ p-p 噪声(典型值)，进行精·确的招低电阻测量。可以对多个读数进行平均，以更大程度地降低噪声；比其他电导测虽技术的速度快十倍，噪声更小。无需平均多次扫描的结果，即可实现准确的测量；在进行电导与电阻测量时，两台仪器可以像一台仪器一样运行；可以检定可易被电流尖峰损坏的设备。